Semiconductor measurement technology, NBS/RADC workshop, moisture measurement technology for hermetic semiconductor devices, II : proceedings of the NBS/RADC workshop held at the National bureau of standards, Gaithersburg, MD, November 5-7, 1980
- Författare
- (Elaine C. Cohen and Stanley Ruthberg, eds.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 1982 | USA, Washington | 294 sidor. diagr., ill. |